Исследовательский поляризационный микроскоп Lecia DM2700P для работы в проходящем и отраженном свете, в комплекте с цифровой камерой Lecia DFC495, подготовленный для проведения термобарометрических исследований

14 сентября 2018
230
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Санкт-Петербург
Страна производства Германия
Год производства 2013
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Поляризационный микроскоп для проведения полного комплекса кристаллооптических характеристик в проходящем и отраженном свете: осность, оптический знак, угол оптических осей, дисперсия оптических осей и полного комплекса кристаллооптических минераграфических характеристик. Позволяет производить высокоточную диагностику минералов в горных породах, количественный анализ структурно-текстурных особенностей, визуализацию и микрофотографирование с разрешением 8 мегапикселей в различных режимах для последующей обработки изображений.
Укомплектован для проведения термобарометрических исследований газовых, газово-жидких и многофазных исследований минералов с визуализацией, микрофотографированием и видеосъемкой.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Микроскоп оптический Olympus CX41 с люминесцентной приставкой (набор комплектующих - CX-RFA2, CX-DMB-2, CX-DMG-2, U-LH50HG-1-5, 50W/AC/L2 MER-CURY производства OLYMPUS), фазовоконтрастным устройством и системой фотодокументации Япония Аренда, Заказ исследования Краснодар
Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV (JEOL) с приставкой рентгеновского микроанализа INCAx-sight, приставкой регистрации спектров микро-катодолюминес-ценции MonoCL3 и приставкой регистрации дифракции обратно-рассеянных электронов Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G30 STwin 300кВ Tecnai G30 ST 300кВ (FEI) США Аренда, Заказ исследования Москва
ИК-микроскоп Idonus IR (Idonus) Швейцария Продажа Москва
Микроскоп LEICA DM IRB (Leica Mirosystems) Германия Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV (JEOL), интегрированный с энергодисперсионным анализатором Oxford INCAEnergy (Oxford Instrument) Великобритания Аренда, Заказ исследования Калининград
Инвертированный микроскоп отраженного света Axiovert 200 MAT (Carl Zeiss) с опцией устройства проходящего света Германия Аренда, Заказ исследования Тверь
Растровый низковакуумный электронный микроскоп с термоэмиссионным катодом JEOL JS-6610LV (JEOL, Oxford Instruments) Великобритания Аренда, Заказ исследования Курск
Микроскоп Микромед Мет с видеоокуляром ToupCam 9,0MP (увеличение 40х-400х, револьверная устр-во на 5 объективов, визуальная насадка бинокулярная) РФ Аренда, Заказ исследования Барнаул
Металлографический микроскоп Zeiss Observer D1m (Carl Zeiss) Германия Аренда, Заказ исследования Владивосток