Интегрированная система для проведения одновременных измерений АСМ и КР Ntegra-Spectra/NT-MDT

14 сентября 2018
655
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Ставропольский край, Ставрополь
Страна производства РФ
Год производства 2013
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 10 млн руб
Стоимость предоставления услуг от 350 000 руб.
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое. Контактная атомно-силовая микроскопия (c-AFM). Полуконтактная атомно-силовая микроскопия (sc-AFM). Конфокальная Рамановская и флуоресцентная микроскопия и спектроскопия. 3D распределение неоднородностей фазового и структурного состояния. Определение спектрального состава оптического излучения для каждой точки 3D изображения. Гигантское комбинационное рассеяние и другие оптические методики, связанные с локальным усилением сигнала, в том числе объемное сканирование. Исследования клеточной ткани, ДНК, вирусов и других биологических объектов.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Микроскоп медицинский инвертированный IX 81 для лабораторных исследований, включая приставку с конфокальной системой FV с модулем детекции на основе фильтров, с 4-мя лазерами (УФ диодный 405 нм, мультилинейный аргоновый 458нм / (476нм) / 488нм / 515 нм; г Япония Аренда, Заказ исследования Пермь
Микроскоп прямой Olympus СХ41 с поляризационной насадкой и флуоресцентным осветителем CX-RFA-2 в комплекте с видеокамерой DP71 (12.5 миллиона пикселей, эквивалентна ISO 200/400/800/1600) с программным обеспечением Cell-F, предназначенным для съемки многок Япония Аренда, Заказ исследования Красноярск
Комплекс для металлографического анализа включающий микроскоп, шлифовально-полировальный станок, стереомикроскоп Микроскоп Axivert 200 MAT, стереомикроскоп Stemi 2000-C (Carl Zeiss) Германия Аренда, Заказ исследования Якутск
Стенд TM-1000 tabletop SEM для настольного электронного сканирующего микроскопа TM-1000 (Hitachi) Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Оптический микроскоп INM 100 (Vistek) с ультрафиолетовым источником в составе Программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС Германия Аренда, Заказ исследования Москва
Настольный автоматический напылительный комплекс токопроводящих покрытий для растровой электронной микроскопии Quorum Technologies Q150T ES Великобритания Аренда, Заказ исследования Краснодар
Микроскоп Axioscope A1 производства Cart Zeiss с программным обеспечением (FISH-диагностика) Axiovision 4.6 для управления камерой Германия Аренда, Заказ исследования Саратов
Программно-технический комплекс для автоматизации научных исследований биологических объектов(клеток) LSM 710 LIVE (Carl) Германия Аренда, Заказ исследования Владивосток
Электронный растровый микроскоп c приставками для измерения катодолюминесценции и элементного анализа методом EDS JSM 7001FA (JEOL) Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Электронный микроскоп серии Zeiss Supra 55 с блоком для электронно-лучевого экспонирования Raith 150 Германия Аренда, Заказ исследования Томск