Лаборатория электроной микроскопии FEI Phenom

14 сентября 2018
421
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства Нидерланды
Год производства 2005
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг от 50 000 руб.
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Phenom позволяет получать изображение поверхности образца с очень большим разрешением. Он предназначен для проведения исследований микро- и наноструктур поверхности исследуемого образца.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G30 STwin 300кВ Tecnai G30 ST 300кВ (FEI) США Аренда, Заказ исследования Москва
Многоцелевая исследовательская лаборатория Ntegra Spectra (НТ-МДТ) РФ Аренда, Заказ исследования Махачкала
Сканирующая зондовая лаборатория Ntegra Aura (НТ-МДТ) РФ Аренда, Заказ исследования Рязань
Сканирующая зондовая лаборатория "ИНТЕГРА СПЕКТРА" (НТ-МДТ) РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Нано Лаборатория для биологических и медицинских исследований Лайф РФ Аренда, Заказ исследования Ставрополь
Учебная зондовая лаборатория NanoEducator РФ Аренда, Заказ исследования Ставрополь
Зондовая нано лаборатория РФ Аренда, Заказ исследования Хабаровск
Микроскоп для лабораторных исследований Axio Imager со штативом М2. Блок корреляционной микроскопии для биологических исследований (Carl Zeiss) Германия Аренда, Заказ исследования Казань
Система визуализации и анализа структуры нано-объектов Teknai G2 F-20 S-TWIN TMP (FEI Company) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Иркутск
Аналитический комплекс на базе просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 20 TWIN (FEI) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Москва