Масс-спектрометр времяпролетный вторично-ионный TOF.SIMS.5 (ION-TOF)
14 сентября 2018
592
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
Страна производства | Германия |
Год производства | 2006 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | до 50 т.р |
Стоимость предоставления услуг | договорная |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследования элементного и молекулярного состава поверхности, слоистых структур и межфазных границ, профилей легирования, получениетрехмерных картин распределения элементов