Прибор для изучения физической адсорбции Gemini VII 2390 Surface Area Analyzer

14 сентября 2018
675
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства США
Год производства 2010
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Прибор предназначен для определения адсорбционных свойств поверхностей по Ленгмюру, общего объема пор, а также для проведения микропористого анализа по t-методу. Позволяет производить анализ материалов с малой удельной поверхностью без использования редкого и дорого газа криптона. Анализ удельной поверхности и размера пор является основополагающим при оценке свойств материалов, в особенности для определения влияния на них тонкодисперсных включений.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Микроанализатор с прямым лазерным и с дуговым источниками возбуждения, предназначенный для лазерного элементного спектрального микроанализа органических и неорганических материалов. ОММЗ.450.501-М РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Порозиметр Micromeritics AutoPore IV в комплекте с устройством для сбора ртути Micromeritics Mercury Quik Vac США Аренда, Заказ исследования Москва
Высоковакуумный фотоэлекторнный спектрометр ESCAprobe для исследований химических соединений в газовой фазе методами рентгеновской и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС, УФЭС) Германия Аренда, Заказ исследования Владивосток
Встраиваемый масс-спектрометр - газоанализатор е-Vision 2 (MKS Instrument) для исследования радиационно- и термо- стимулированного газовыделения из металлов и сплавов США Аренда, Заказ исследования Томск
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов Axis UltraDLD (Kratos) Великобритания Аренда, Заказ исследования Москва
Приставка для анализа тонких пленок в комплекте с программным обеспечением к рентгеновскому дифрактометру XRD-7000 (Shimadzu) Япония Аренда, Заказ исследования Пермь
Аналитический комплекс для характеризации свойств поверхноститвердого тела методом полной эллипсометрии ЭЛЛИПС-АМ РФ Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Вакуумная установка для напыления проводящих и диэлектрических слоев SunPla 600 TEM (SunPlaEng) Корея Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Фотоэлектронный спектрометр для исследования химического состава наночастиц на поверхности твердого тела Польша Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Комплект дополнительного оборудования для проведения исследований на рентгено-флуоресцентном спектрометре Швейцария Аренда, Заказ исследования Саранск