Рентгеновский дифрактометр для нанотехнологий D8 DISCOVER (Bruker)

Предназначен для решения научных задач в том числе: контроль качества, разработка новых технологий изготовления тонких пленок, эпитаксиальных слоев, материалов для микро и наноэлектроники. Градиентная параллельно-лучевая оптика – зеркала Гёбеля обеспечивает высокую интенсивность параллельного пучка рентгеновского излучения, необходимого для анализа тонких пленок. Такие модули, как автоматический поглотитель, позволяет упростить процесс съемки. Сменные монохроматоры обеспечивают возможность анализа различных материалов. Современные столики для образцов и разнообразные подвески Эйлера делают более удобным и гибким проведение. Анализ остаточных напряжений и текстуры. Для проведения рентгеновской рефлектометрии существуют специальные прободержатели, в том числе для проведения температурных исследований. Модуль Ultra GID предназначен для исследования нанометровых эпитаксиальных слоев. Позиционно-чувствительный детектор VANTEC-1 существенно ускоряет съемку карт обратного пространства. Аналитические пакеты LEPTOS и MULTEX Area дают возможность обрабатывать данные измерений рефлектометрии, остаточных напряжений, микродифракции, дифрактометрии высокого разрешения.