Дифрактометр для контроля качества в полупроводниковой промышленности D8 FABLINE (Bruker)
14 сентября 2018
435
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
Страна производства | Германия |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Описание
Предназначен для контроля качества полупроводниковых пластин в полупроводниковой промышленности. Оснащенный сенсорным экраном вместе с удобным и гибким программным обеспечением, позволяет быстро и качественно решать задачи контроля качества в полупроводниковой промышленности. Исследование пластин размером от 6“ до 300 мм. Горизонтальный прободержатель обеспечивает высокое быстродействие системы и исключает повреждение образца. Интерфейс SECS/GEM позволяет интегрировать D8 FABLINE в систему управления технологическим процессом. Автоматическое распознавание образов дает возможность проведения точных микроанализов. Оснащен одиночным или сдвоенным встроенным FOUP-интерфейсом для загрузки пластин. Сенсорный экран делает работу с системой более удобной.