| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | РФ |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Описание
Предназначен для контроля ориентации поверхности пластин и буль монокристаллов из сапфира, кремния, германия, арсенида галлия и др. относительно заданных атомных плоскостей. Расходящийся пучок излучения от рентгеновской трубки фокусируется изогнутым кристалл-монохроматором на поверхность среза монокристалла, установленного на поворотном столике. Дифракционный максимум, соответствующий анализируемой кристаллографической плоскости, регистрируется позиционно-чувствительным детектором. Ориентация поверхности монокристалла определяется как угол между поверхностью пластины или срезом були и ее кристаллографической плоскостью.