Универсальная сверхвысоковакуумная РФЭС система PULSE XPS (Sigma Surface Science)
14 сентября 2018
541
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
Страна производства | США |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Описание
Разработана под самые высокие требования современного анализа тонких пленок. Система рассчитана на анализ поверхности методами XPS, UPS, ISS (LEIS), AES и Depth Profiling. Благодаря гибкой модульной конструкции функционал системы может быть легко расширен. Аналитическая камера оснащена турбомолекулярным насосом модели Pfeiffer HiPace300 (номинальная скорость откачки 265 л/с), форвакуумным насосом модели Agilent SH-110 (номинальная скорость откачки 6,6 м3/ч) с электромагнитным клапаном для защиты от отключения электропитания, клапаном для напуска атмосферы, чистого азота, контроллерами и кабелями. В комплект входит 19" стойка электроники, куда монтируются все блоки управления, в том числе ТМН, ФВН, вакуумными клапанами, RF/DC блоки питания для магнетронных источников и столика-манипулятора, кварцевыми микровесами, контроллером расхода газа, пневматическими клапанами, системой блокировок (поток охлаждающей жидкости, уровень вакуума, дверь для загрузки образцов) и кнопка экстренного отключения электропитания.
Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
---|---|---|---|
Система оптического контроля лазерного напыления :1. Монохроматор /Спектрограф MSDD1000- 1 шт. 2. Импульсный NdYAG лазер LF117 - 1 шт. | Белорусь (РБ) | Аренда, Заказ исследования | Ростов-на-Дону |
ИСП-масс-спектрометрическая система ELAN 9000 (Perkin Elmer) | США | Аренда, Заказ исследования | Мурманск |
Система элементного анализа покрытий GD-Profiler HR™ (HORIBA) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Томск |
Спектрофотометр ионный ВЭЖХ-система «Стайер» | РФ | Продажа | Санкт-Петербург |