Энергодисперсионный рентгеновский анализатор EX-23010BU/EX-37001, Jeol

24 декабря 2019
343
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Бурятия, Улан-Удэ
Страна производства Япония
Год производства 2016
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Да
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначен для установки на просвечивающие электронные микроскопы JEOL. Она использует кремний-дрейфовые детекторы (SDD) с кристаллами площадью 30, 60 либо 100 мм2. Наибольшим спросом пользуется последний из них, Dry SD100GV Detector, поскольку он отличается высокой чувствительностью и позволяет одновременно изучать и морфологию, и элементный состав наноразмерных или чувствительных к воздействию пучка объектов. Конструкция этого детектора позволяет приближать его к образцу настолько близко, что угол сбора может составлять до 0,98 стеррадиан (на ПЭМ с полюсными наконечниками высокого разрешения). Еще одним достоинством прибора является то, что его энергетическое разрешение не принесено в жертву большой площади кристалла – пики бора, углерода, азота и кислорода в регистрируемом спектре четко разделяются между собой.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Анализатор комплексного коррелятора оптических, спектральных и топографических свойств поверхностных объектов «Centaur HR» РФ Аренда, Заказ исследования Томск
Трехмерно-отображающий анализатор структуры поверхно-сти «NewView 5000» Zygo Corporation США Аренда, Заказ исследования Самара
Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел "Минерал С7" РФ Аренда, Заказ исследования Белгород
Анализатор с сканирующим туннельным микроскопом LAS-2000 Франция Аренда, Заказ исследования Российская Федерация
Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV (JEOL) с приставкой рентгеновского микроанализа INCAx-sight, приставкой регистрации спектров микро-катодолюминес-ценции MonoCL3 и приставкой регистрации дифракции обратно-рассеянных электронов Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Сканирующий электронный микроскоп для работы в режиме высокого и низкого вакуума с системой для микроанализа JEOL JSM-6390LV Китай Аренда, Заказ исследования Пермь
Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV (JEOL), интегрированный с энергодисперсионным анализатором Oxford INCAEnergy (Oxford Instrument) Великобритания Аренда, Заказ исследования Калининград
Электронный растровый микроскоп c приставками для измерения катодолюминесценции и элементного анализа методом EDS JSM 7001FA (JEOL) Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Двухлучевая исследовательская система на базе электронно-ионного микроскопа JEOL JIB-4500 Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Многолучевая система JIB-4500 Multibeam (Jeol), оснащенная электронной и ионной пушкой Япония Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург