Рентгеновский монокристальный дифрактометр SuperNova, Agilent Technologies
3 февраля 2020
583
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Ставропольский край, Ставрополь |
Страна производства | США |
Год производства | 2015 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Стоимость предоставления услуг | договорная |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Да |
Наличие аккредитации | Да |
Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Предназначен для прецизионного исследования монокристаллов с большими ячейками, в том числе, биологических макромолекулярных структур. Материалы анода: микрофокусные источники излучения – MoKα, CuKα. Номинальный режим работы источников рентгеновского излучения – 40 кВ/1.5 мА. Детектор отраженных рентгеновских лучей – двумерный высокоскоростной CCD. Многослойная рентгеновская оптика для повышения интенсивности и выполняющая функции монохроматора (выделяет из общего спектра источника дуплет линий К(альфа1)/К(альфа2)). Специализированный пакет программ CRYSALISpro позволяет выполнять автоматический поиск дифракционных пиков с заданными параметрами, автоматически определять и уточнять параметры элементарной ячейки, проводить интегрирование массива дифракционных данных, проводить анализ и обработку данных диффузного рассеяния, учет поглощения по реальной форме кристалла, численный учет поглощения, шкалирование и учет поглощения на основании данных по интенсивности симметрично-связанных отражений, измеренных при различных ориентациях кристалла; расчет геометрических характеристик объектов (площадь, периметр, фактор формы, ориентация, длина, ширина).