Заказ исследования Прибор для измерения шероховатости поверхности MarSurf XR 20, Mahr в г.Москва

Классификация оборудования	Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие
Страна, регион, город	Российская Федерация, Москва
Страна производства	Германия
Год производства	2012
Предоставляемое количество	1
Условия использования	Заказ исследования
Стоимостная группа	до 500 000 тыс. руб.
Стоимость предоставления услуг	договорная
Регламент предоставления услуги	—
Объект коллективного пользования	Да
Наличие аккредитации	Да
Наличие ГОСТированной методики	Да

Описание

Предназначен для измерений параметров шероховатости поверхностей изделий, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию (образующие цилиндрических поверхностей; отверстия; плоские поверхности). Область применения - цеха и лаборатории промышленных предприятий различных отраслей машиностроения, научно-исследовательские институты, метрологические центры.

Найти аналог

Вам может быть интересно

Наименование	Страна производства	Условия использования	Расположение
Микроанализатор с прямым лазерным и с дуговым источниками возбуждения, предназначенный для лазерного элементного спектрального микроанализа органических и неорганических материалов. ОММЗ.450.501-М	РФ	Аренда, Заказ исследования	Санкт-Петербург
Порозиметр Micromeritics AutoPore IV в комплекте с устройством для сбора ртути Micromeritics Mercury Quik Vac	США	Аренда, Заказ исследования	Москва
Высоковакуумный фотоэлекторнный спектрометр ESCAprobe для исследований химических соединений в газовой фазе методами рентгеновской и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС, УФЭС)	Германия	Аренда, Заказ исследования	Владивосток
Встраиваемый масс-спектрометр - газоанализатор е-Vision 2 (MKS Instrument) для исследования радиационно- и термо- стимулированного газовыделения из металлов и сплавов	США	Аренда, Заказ исследования	Томск
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов Axis UltraDLD (Kratos)	Великобритания	Аренда, Заказ исследования	Москва
Приставка для анализа тонких пленок в комплекте с программным обеспечением к рентгеновскому дифрактометру XRD-7000 (Shimadzu)	Япония	Аренда, Заказ исследования	Пермь
Аналитический комплекс для характеризации свойств поверхноститвердого тела методом полной эллипсометрии ЭЛЛИПС-АМ	РФ	Аренда, Заказ исследования	Новосибирск
Вакуумная установка для напыления проводящих и диэлектрических слоев SunPla 600 TEM (SunPlaEng)	Корея	Аренда, Заказ исследования	Новосибирск
Комплект дополнительного оборудования для проведения исследований на рентгено-флуоресцентном спектрометре	Швейцария	Аренда, Заказ исследования	Саранск
Аппарат для напыления на биологические образцы EM SCD 500 (Leica)	Австрия	Аренда, Заказ исследования	Новосибирск