Наименование |
Страна производства |
Условия использования |
Расположение |
Оптический спектрометр для работы в диапазоне длин волн от вакуумного ультрафиолета до инфракрасной области McPherson 225 NOVA |
США |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
Аналитический комплекс на базе аппарата рентгеновского для спектрального анализа «Спектроскан Макс G» |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Калининград |
Вакуумная камера для квази-монохроматического источника рентгеновского излучения с плавно перестраиваемой линией |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Белгород |
Прибор для измерения толщины покрытий Cat-S-AX-0000 (CSM Instruments) |
Швейцария |
Аренда, Заказ исследования |
Томск |
Аналитический комплекс на базе аппарата рентгеновского для спектрального анализа |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
Прибор для измерения удельной поверхности по многоточечному методу БЭТ |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Пермь |
Датчик для снятия показаний на электронный блок к дефектоскопу |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Белгород |
Комплекс для снятия характеристик пьезоэлектрических преобразователей Спектр-П |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
Комплект оборудования для мониторинга радона |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Ставрополь |
Стенд для имитации дефектов |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Томск |