Измерения параметров полупроводников: FET (CMOS, HVMOS, OTFT, и т.д.), BJT, диодов, резисторов и других устройств как на пластине, так и в виде дискретных компонентов.
19 апреля 2019
742
| Виды услуг | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Регламент предоставления услуги | По запросу |
| Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | Система измерения фликкер-шума 3001B |
| Ориентировочная стоимость | от 300 000 руб. |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
| Описание опыта выполнения аналогичных услуг | 5 лет |
Описание
Измерения параметров полупроводников: FET (CMOS, HVMOS, OTFT, и т.д.), BJT, диодов, резисторов и других устройств как на пластине, так и в виде дискретных компонентов.
Технические характеристики:
Диапазон частот: 1 Гц - 100 кГц
Смещение по постоянному току: ±50В, ±50мА (зависет от анализатора постоянного тока)
Шум при использовании малошумящего усилителя: 17 нВ/√Hz на 1 Гц, 2 нВ/√Hz на 100 Гц, 1,9 нВ/√Hz на 1 кГц
Шум тока: менее 50 фА/√Hz
Технические характеристики:
Диапазон частот: 1 Гц - 100 кГц
Смещение по постоянному току: ±50В, ±50мА (зависет от анализатора постоянного тока)
Шум при использовании малошумящего усилителя: 17 нВ/√Hz на 1 Гц, 2 нВ/√Hz на 100 Гц, 1,9 нВ/√Hz на 1 кГц
Шум тока: менее 50 фА/√Hz