СТРУКТУРА И ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ТВЕРДЫХ РАСТВОРОВ BI6-XSRXTI2-XNB2 XO18 (X=0-2)
14 сентября 2018
257
Предметная область | — |
Выходные данные | — |
Ключевые слова | — |
Вид публикации | Статья |
Контактные данные автора публикации | ВЛАСЕНКО В.Г., ЗУБКОВ С.В., ШУВАЕВА В.А. |
Ссылка на публикацию в интернете | elibrary.ru/item.asp?id=20322712 |
Аннотация
Исследованы структурные и электрофизические характеристики ряда твердых растворов слоистых перовскитоподобных оксидов Bi6-xSrxTi2-xNb2 xO18 (x=0, 0.25, 0.5, 1.0, 1.5, 2.0), измерены темературные зависимости относительной диэлектрической проницаемости varepsilon/varepsilon0(T) и тангенса угла диэлектрических потерь tgdelta, получены зависимости максимума диэлектрической проницаемости varepsilon/varepsilon0, температуры Кюри TC, параметров ячейки и объема элементарной ячейки от x. Обнаружено заметное отрицательное отклонение от закона Вегарда структурного параметра a, соответствующего полярному направлению, а также величины ромбического искажения элементарной ячейки. Обнаружено, что изменения ромбического искажения коррелируют с изменением величины максимума диэлектрической проницаемости, однако не оказывают заметного влияния на температуру Кюри, которая меняется линейно во всем интервале изменения x.
ПодробнееДля того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.