СКАНИРУЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ КАК МЕТОД ИЗУЧЕНИЯ МИКРОСКОПИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКОГО ПРОИСХОЖДЕНИЯ

14 сентября 2018
166
Предметная область
Выходные данные
Ключевые слова
Вид публикации Статья
Контактные данные автора публикации ЯСНИКОВ И.С., НАГОРНОВ Ю.С., ГОРБАЧЕВ И.В., МИКЕЕВ Р.Р., САДОВНИКОВ П.С., ШУБЧИНСКАЯ Н.Ю., АМИНАРОВ А.В.
Ссылка на публикацию в интернете elibrary.ru/item.asp?id=18771775

Аннотация

В работе рассматриваются примеры реализации различных методик сканирующей электронной микроскопии как инструментария для исследования микроскопических объектов электролитического происхождения. Было показано, что дендриты в полости микрокристаллов электролитического происхождения образуются в результате локального повышения и последующего падения температуры в процессе эволюции островка роста. Продемонстрированы методические приемы получения электронно-микроскопических изображений, которые являются дополнительным подтверждением модели, согласно которой образование кристаллов правильной формы и пентагональных кристаллов возможно только при прохождении островка роста в процессе его эволюции через высокотемпературное состояние. Продемонстрированы методические приемы получения изображений в электронной сканирующей микроскопии, позволяющие идентифицировать сферические и полусферические микрокристаллы, а также способы получения изображений из внутренних поверхностей полостей микрокристаллов.
Подробнее
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.