СКАНИРУЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ КАК МЕТОД ИЗУЧЕНИЯ МИКРОСКОПИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКОГО ПРОИСХОЖДЕНИЯ

В работе рассматриваются примеры реализации различных методик сканирующей электронной микроскопии как инструментария для исследования микроскопических объектов электролитического происхождения. Было показано, что дендриты в полости микрокристаллов электролитического происхождения образуются в результате локального повышения и последующего падения температуры в процессе эволюции островка роста. Продемонстрированы методические приемы получения электронно-микроскопических изображений, которые являются дополнительным подтверждением модели, согласно которой образование кристаллов правильной формы и пентагональных кристаллов возможно только при прохождении островка роста в процессе его эволюции через высокотемпературное состояние. Продемонстрированы методические приемы получения изображений в электронной сканирующей микроскопии, позволяющие идентифицировать сферические и полусферические микрокристаллы, а также способы получения изображений из внутренних поверхностей полостей микрокристаллов.