АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ СИСТЕМА ДИАГНОСТИКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТРУКТУР
14 сентября 2018
237
Предметная область | — |
Выходные данные | — |
Ключевые слова | — |
Вид публикации | Статья |
Контактные данные автора публикации | БОГДАНОВ СЕРГЕЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ |
Ссылка на публикацию в интернете | elibrary.ru/item.asp?id=21348230 |
Аннотация
Разработана автоматизированная система диагностики полупроводниковых структур, предназначенная для измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик тестовых структур при различных температурах в широком диапазоне напряжений смещения. Автоматизированная система диагностики полупроводниковых структур позволяет с высокой достоверностью и оперативностью определять параметры глубоких энергетических уровней, профили распределения легирующих примесей, время жизни носителей заряда, энергетический спектр плотности поверхностных состояний и может быть использована при отработке и оптимизации технологических режимов формирования структур твердотельной электроники.
ПодробнееДля того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.