ФОРМИРОВАНИЕ И ИССЛЕДОВАНИЕ МАТРИЦЫ МЕМРИСТОРОВ НА ОСНОВЕ ОКСИДА ТИТАНА МЕТОДАМИ ЗОНДОВОЙ НАНОТЕХНОЛОГИИ
14 сентября 2018
620
Предметная область | — |
Выходные данные | — |
Ключевые слова | — |
Вид публикации | Статья |
Контактные данные автора публикации | Авилов В.И., Агеев О.А., Коломийцев А.С., Коноплев Б.Г., Смирнов В.А., Цуканова О.Г. |
Ссылка на публикацию в интернете | elibrary.ru/item.asp?id=21446256 |
Аннотация
Представлены результаты исследования макета матрицы мемристоров на основе оксидных наноразмерных структур (ОНС) титана, изготовленного методами фокусированных ионных пучков и атомно-силовой микроскопии (АСМ). Показано влияние интенсивности взаимодействия зонда АСМ с поверхностью образца на мемристорный эффект в ОНС титана. Исследован мемристорный эффект ОНС титана методом АСМ в режиме отображения сопротивления растекания. Показана возможность записи-стирания информации в субмикронных ячейках на основе использования мемристорного эффекта в ОНС титана, что наиболее перспективно при разработке технологических процессов формирования элементов резистивной оперативной памяти.
ПодробнееДля того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.