CALCULATING X-RAY DIFFRACTION FROM MULTILAYER LATERAL CRYSTAL STRUCTURES WITH ARBITRARY SHAPES AND COMPOSITION PROFILES

14 сентября 2018
131
Предметная область
Выходные данные
Ключевые слова
Вид публикации Статья
Контактные данные автора публикации PUNEGOV V., MAKSIMOV A.I., KOLOSOV S.I., PAVLOV K.M.
Ссылка на публикацию в интернете www.maik.ru/cgi-perl/search.pl?type=abstract&name=techphlt&number=2&year=7&page=125

Аннотация

A theory of x-ray diffraction in the vertical direction from a lateral crystal having an arbitrary shape
and arbitrary depth–composition profile has been developed within the framework of the kinematic approxima-
tion. The results of a numerical simulation of diffraction patterns from such crystals in high-resolution triple-
axis diffractometry scheme are presented.
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.