HIGH RESOLUTION X-RAY DIFFRACTOMETRY OF THE STRUCTURAL CHARACTERISTICS OF A SEMICONDUCTING (INGA)AS/GAAS SUPERLATTICE

14 сентября 2018
143
Предметная область
Выходные данные
Ключевые слова
Вид публикации Статья
Контактные данные автора публикации NESTERETS YA.I., PUNEGOV V.I., PAVLOV K.M., FALEEV N.N.
Ссылка на публикацию в интернете elibrary.ru/item.asp?id=13319145

Аннотация

X-RAY, DIFFRACTOMETRY
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.