HIGH RESOLUTION X-RAY DIFFRACTOMETRY OF THE STRUCTURAL CHARACTERISTICS OF A SEMICONDUCTING (INGA)AS/GAAS SUPERLATTICE
14 сентября 2018
190
| Предметная область | — |
| Выходные данные | — |
| Ключевые слова | — |
| Вид публикации | Статья |
| Контактные данные автора публикации | NESTERETS YA.I., PUNEGOV V.I., PAVLOV K.M., FALEEV N.N. |
| Ссылка на публикацию в интернете | elibrary.ru/item.asp?id=13319145 |
Аннотация
X-RAY, DIFFRACTOMETRY
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.