SULPHUR-PASSIVATED GAAS INVESTIGATION USING HIGH RESOLUTION X-RAY DIFFRACTOMETRY
14 сентября 2018
190
Предметная область | — |
Выходные данные | — |
Ключевые слова | — |
Вид публикации | Статья |
Контактные данные автора публикации | PETRAKOV A., PUNEGOV V., PAVLOV K., JAMIESON I., JAKOVIDIS G. |
Ссылка на публикацию в интернете | elibrary.ru/item.asp?id=13440155 |
Аннотация
X-RAY, DIFFRACTOMETRY
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.