ВЛИЯНИЕ ФЛУКТУАЦИЙ ЛАТЕРАЛЬНОГО ПЕРИОДА МНОГОСЛОЙНОЙ ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКИ НА РАССЕЯНИЕ ЖЕСТКОГО СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

Исследовано влияние флуктуаций латерального периода неидеальной многослойной дифракционной решетки на рассеяние жесткого (рентгеновского диапазона частот) синхротронного излучения. Построены карты углового распределения когерентной и диффузной интенсивностей рассеяния в обратном пространстве. Теоретические дифракционные кривые от многослойной дифракционной решетки Ni/C сравниваются с экспериментальными данными высокоразрешающей трехосевой дифрактометрии. Показано, что хорошее согласие теоретических и экспериментальных результатов наблюдается при дисперсии флуктуаций, равной трем процентам от среднего значения латерального периода решетки.