Измерение локального удельного сопротивления методами наноиндентирования и силовой спектроскопии
14 сентября 2018
401
| Предметная область | — |
| Выходные данные | — |
| Ключевые слова | — |
| Вид публикации | Статья |
| Контактные данные автора публикации | СОШНИКОВ А.И.1, КРАВЧУК К.С.1, МАСЛЕНИКОВ И.И.2, ОВЧИННИКОВ Д.В.2, РЕШЕТОВ В.Н.3 ; 1 Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов Россия, 142190, Троицк Московской обл., ул. Центральная, 7А 2 Московский физико-технический институт Р |
| Ссылка на публикацию в интернете | elibrary.ru/item.asp?id=18822170 |
Аннотация
ЖУРНАЛ:
ПРИБОРЫ И ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА
Издательство: Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука" (Москва)
ISSN: 0032-8162
АННОТАЦИЯ:
Описаны методы измерения удельного сопротивления материалов при упругом и упругопластическом взаимодействии токопроводящего индентора и исследуемого образца. Предложены аналитические модели, описывающие зависимости контактного омического сопротивления от силы прижима и контактной жесткости. Экспериментальная проверка моделей выполнена на сканирующем нанотвердомере “НаноСкан” с использованием инденторов из легированного бором монокристалла алмаза.
ПодробнееПРИБОРЫ И ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА
Издательство: Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука" (Москва)
ISSN: 0032-8162
АННОТАЦИЯ:
Описаны методы измерения удельного сопротивления материалов при упругом и упругопластическом взаимодействии токопроводящего индентора и исследуемого образца. Предложены аналитические модели, описывающие зависимости контактного омического сопротивления от силы прижима и контактной жесткости. Экспериментальная проверка моделей выполнена на сканирующем нанотвердомере “НаноСкан” с использованием инденторов из легированного бором монокристалла алмаза.
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.