ВЛИЯНИЕ ПАРАЗИТНЫХ КОНСТРУКТИВНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ НА ХАРАКТЕРИСТИКИ КАЧЕСТВА СФ-БЛОКОВ СИНТЕЗАТОРОВ ЧАСТОТ В СОСТАВЕ КМОП СБИС

14 сентября 2018
158
Предметная область
Выходные данные
Ключевые слова
Вид публикации Статья
Контактные данные автора публикации ГАРМАШ А.А.1, ДУБИНСКИЙ А.В.2, ДОМОЖАКОВ Д.А.1, КОБЫЛЯЦКИЙ А.В.1 1 (НИЯУ «МИФИ») 2 (ОАО НПЦ «ЭЛВИС»)
Ссылка на публикацию в интернете elibrary.ru/item.asp?id=19110162

Аннотация

ЖУРНАЛ:


ВОПРОСЫ РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ
Издательство: Центральный научно-исследовательский институт экономики, систем управления и информации «Электроника (Москва)
ISSN: 0233-9950

КЛЮЧЕВЫЕ СЛОВА:


КМОП СБИС, CMOS VLSI, СИНТЕЗАТОР ЧАСТОТ, FREQUENCY SYNTHESIZER, ПАРАЗИТНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ, PARASITIC CIRCUIT ELEMENTS, ФАПЧ., PLL.

АННОТАЦИЯ:

Проведено исследование влияния паразитных конструктивных элементов КМОП СБИС конденсаторов и резисторов на характеристики качества синтезатора частот и его внутренних блоков. Разработаны конструктивно-топологи-ческие решения внутренних блоков, позволяющие минимизировать влияние паразитных элементов. Предложенные решения реализованы в СФ-блоках синтезаторов частот 600 МГц и 800 МГц.
Подробнее
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.