ПОВЕДЕНЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ КОНДЕНСАТОРНОЙ МАТРИЦЫ, УЧИТЫВАЮЩАЯ ВЛИЯНИЕ ПАРАЗИТНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ, В СОСТАВЕ АЦП ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОГО ПРИБЛИЖЕНИЯ
14 сентября 2018
222
| Предметная область | — |
| Выходные данные | — |
| Ключевые слова | — |
| Вид публикации | Статья |
| Контактные данные автора публикации | ОСИПОВ Д.Л.1, БОЧАРОВ Ю.И.1, БУТУЗОВ В.А. |
| Ссылка на публикацию в интернете | elibrary.ru/item.asp?id=19051621 |
Аннотация
ЖУРНАЛ:
МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Издательство: Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука" (Москва)
ISSN: 0544-1269
АННОТАЦИЯ:
Представлен анализ влияния паразитных параметров на характеристики ЦАП на основе конденсаторной матрицы в АЦП последовательного приближения. На основе выполненного анализа создана Verilog-A модель конденсаторной матрицы. Рассмотрены преимущества использования данной модели в рамках методологии проектирования сверхувниз.
ПодробнееМИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Издательство: Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука" (Москва)
ISSN: 0544-1269
АННОТАЦИЯ:
Представлен анализ влияния паразитных параметров на характеристики ЦАП на основе конденсаторной матрицы в АЦП последовательного приближения. На основе выполненного анализа создана Verilog-A модель конденсаторной матрицы. Рассмотрены преимущества использования данной модели в рамках методологии проектирования сверхувниз.
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.