НЕОДНОРОДНОСТЬ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ АТОМОВ ФТОРА ПО ГЛУБИНЕ ПРИ РАДИАЦИОННОЙ КАРБОНИЗАЦИИ ПОЛИВИНИЛИДЕНФТОРИДА
14 сентября 2018
381
| Предметная область | — |
| Выходные данные | — |
| Ключевые слова | — |
| Вид публикации | Статья |
| Контактные данные автора публикации | ПЕСИН Л.А.1, АНДРЕЙЧУК В.П.1, МОРИЛОВА В.М.1, ГРИБОВ И.В.2, МОСКВИНА Н.А.2, КУЗНЕЦОВ В.Л.2, ЕВСЮКОВ С.Е.3, КОРЯКОВА О.В.4, МОКРУШИН А.Д.5, ЕГОРОВ Е.В.5 1 Снежинский физико-технический институт (СФТИ НИЯУ МИФИ), Снежинск, Россия 2 Институт физики металлов |
| Ссылка на публикацию в интернете | elibrary.ru/item.asp?id=19002284 |
Аннотация
ЖУРНАЛ:
ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ
Издательство: Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука" (Москва)
ISSN: 0207-3528
АННОТАЦИЯ:
Под воздействием ионизирующего излучения в пленке ПВДФ происходит отрыв атомов водорода и фтора, присоединенных к линейной углеродной цепи ПВДФ одинарными химическими связями. Свободные атомы и молекулы HF диффундируют к поверхности пленки и покидают ее. В результате радиационного воздействия на поверхность образца устанавливается градиент концентрации фтора по глубине. Нами исследовался характер распределения фтора в пленках ПВДФ, подвергавшихся длительному рентгеновскому облучению. Использовались методы рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) и резерфордовского обратного рассеяния (РОР). Оба метода дают близкие значения концентрации атомов фтора на глубине около 10 нм.
ПодробнееПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ
Издательство: Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука" (Москва)
ISSN: 0207-3528
АННОТАЦИЯ:
Под воздействием ионизирующего излучения в пленке ПВДФ происходит отрыв атомов водорода и фтора, присоединенных к линейной углеродной цепи ПВДФ одинарными химическими связями. Свободные атомы и молекулы HF диффундируют к поверхности пленки и покидают ее. В результате радиационного воздействия на поверхность образца устанавливается градиент концентрации фтора по глубине. Нами исследовался характер распределения фтора в пленках ПВДФ, подвергавшихся длительному рентгеновскому облучению. Использовались методы рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) и резерфордовского обратного рассеяния (РОР). Оба метода дают близкие значения концентрации атомов фтора на глубине около 10 нм.
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.