Защита микропроцессорной аппаратуры и её цепей от внешних электромагнитных воздействий естественного и искусственного происхождения

14 сентября 2018
161
Предметная область
Выходные данные
Ключевые слова
Вид публикации Статья
Контактные данные автора публикации ФОМЕНКО ОЛЬГА ВИКТОРОВНА1, ПАШКОВСКИЙ АЛЕКСАНДР ВЛАДИМИРОВИЧ1 1 Волгодонский инженерно-технический институт – филиал Национального исследовательского ядерного университета «МИФИ», Волгодонск, Ростовская обл
Ссылка на публикацию в интернете elibrary.ru/item.asp?id=20842744

Аннотация

ЖУРНАЛ:


ГЛОБАЛЬНАЯ ЯДЕРНАЯ БЕЗОПАСНОСТЬ
Издательство: Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ" (Москва)
ISSN: 2305-414X

КЛЮЧЕВЫЕ СЛОВА:


ЭЛЕКТРОМАГНИТНАЯ СОВМЕСТИМОСТЬ, ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY, МИКРОПРОЦЕССОРНАЯ АППАРАТУРА, MICROPROCESSOR EQUIPMENT, ЭЛЕКТРОМАГНИТНАЯ ОБСТАНОВКА, ELECTROMAGNETIC SITUATION, ЗАЗЕМЛЯЮЩИЕ УСТРОЙСТВА, GROUNDING DEVICES, APPLIANCES

АННОТАЦИЯ:


В статье рассмотрены основные виды электромагнитных воздействий различного происхождения, их влияние на работу микропроцессорной аппаратуры и предложены варианты их снижения.
Подробнее
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.