МОДЕЛИРОВАНИЕ И ПРОГНОЗИРОВАНИЕ ДЕГРАДАЦИИ КОМПОНЕНТОВ БИПОЛЯРНЫХ И КМОП-ТЕХНОЛОГИЙ В ПОЛЯХ НЕСТАЦИОНАРНОЙ МОЩНОСТИ ДОЗЫ КОСМИЧЕСКОГО ПРОСТРАНСТВА
14 сентября 2018
425
| Предметная область | — |
| Выходные данные | — |
| Ключевые слова | — |
| Вид публикации | Статья |
| Контактные данные автора публикации | ЗЕБРЕВ ГЕННАДИЙ ИВАНОВИЧ1, АНАШИН ВАСИЛИЙ СЕРГЕЕВИЧ2, ПРОТОПОПОВ ГРИГОРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ2, ЧУБУНОВ ПАВЕЛ АЛЕКСАНДРОВИЧ2, КОЗЮКОВ АЛЕКСАНДР ЕВГЕНЬЕВИЧ2, ЕЛУШОВ И.В.1,2, УСЕИНОВ РУСТЭМ ГАЛЕЕВИЧ3 1 Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ» 2 |
| Ссылка на публикацию в интернете | elibrary.ru/item.asp?id=21004995 |
Аннотация
ЖУРНАЛ:
ВОПРОСЫ АТОМНОЙ НАУКИ И ТЕХНИКИ. СЕРИЯ: ФИЗИКА РАДИАЦИОННОГО ВОЗДЕЙСТВИЯ НА РАДИОЭЛЕКТРОННУЮ АППАРАТУРУ
Издательство: Научно-исследовательский институт приборов (Лыткарино)
ISSN: 1997-2830
КЛЮЧЕВЫЕ СЛОВА:
МОЩНОСТЬ ДОЗЫ, DOSE RATE, ДЕГРАДАЦИЯ, DEGRADATION, ELDRS, БИПОЛЯРНАЯ ТЕХНОЛОГИЯ, BIPOLAR TECHNOLOGY, КМОП, CMOS, ПРОГНОЗИРОВАНИЕ, FORECASTING
АННОТАЦИЯ:
Деградация параметров интегральных схем (ИС) описывается как функционал от радиационной, электрической и тепловой истории устройств на борту. Предложен вариант модельно-независимой единой процедуры испытаний для КМОП и биполярных ИС.
ПодробнееВОПРОСЫ АТОМНОЙ НАУКИ И ТЕХНИКИ. СЕРИЯ: ФИЗИКА РАДИАЦИОННОГО ВОЗДЕЙСТВИЯ НА РАДИОЭЛЕКТРОННУЮ АППАРАТУРУ
Издательство: Научно-исследовательский институт приборов (Лыткарино)
ISSN: 1997-2830
КЛЮЧЕВЫЕ СЛОВА:
МОЩНОСТЬ ДОЗЫ, DOSE RATE, ДЕГРАДАЦИЯ, DEGRADATION, ELDRS, БИПОЛЯРНАЯ ТЕХНОЛОГИЯ, BIPOLAR TECHNOLOGY, КМОП, CMOS, ПРОГНОЗИРОВАНИЕ, FORECASTING
АННОТАЦИЯ:
Деградация параметров интегральных схем (ИС) описывается как функционал от радиационной, электрической и тепловой истории устройств на борту. Предложен вариант модельно-независимой единой процедуры испытаний для КМОП и биполярных ИС.
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.