ИССЛЕДОВАНИЕ ПРОЦЕССА ВОССТАНОВЛЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ НА КРЕМНИЕВОМ ФОТОУМНОЖИТЕЛЕ
14 сентября 2018
215
| Предметная область | — |
| Выходные данные | — |
| Ключевые слова | — |
| Вид публикации | Статья |
| Контактные данные автора публикации | ПЛЕШКО А.Д.1, БУЖАН П.Ж.2, ИЛЬИН А.Л.2, ПОПОВА Е.В.2, СТИФУТКИН А.А.2, АГЕЕВ С.И.3 1 ОАО “ГНПП “Регион” Россия, 115230, Москва, Каширское ш., 13а 2 Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ” Россия, 115409, Москва, Каширское ш., 31 3 ООО “ |
| Ссылка на публикацию в интернете | elibrary.ru/item.asp?id=20398859 |
Аннотация
ЖУРНАЛ:
ПРИБОРЫ И ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА
Издательство: Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука" (Москва)
ISSN: 0032-8162
АННОТАЦИЯ:
Теоретически и экспериментально исследована динамика процесса восстановления напряжения на кремниевом фотоумножителе. Изучены особенности восстановления напряжения в кристаллах с большим числом ячеек. Изложены соображения по конфигурации и выбору значений элементов фильтра в цепи питания. Получено выражение для расчета времени восстановления при произвольном числе сработавших пикселей, учитывающее общее число пикселей фотоумножителя, сопротивление горизонтального растекания тока по p- и n-областям пикселя, значения внешних элементов. Аналитические выражения и результаты SPICE-моделирования сопоставлены с экспериментальными результатами измерения напряжения на нагрузке.
ПодробнееПРИБОРЫ И ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА
Издательство: Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука" (Москва)
ISSN: 0032-8162
АННОТАЦИЯ:
Теоретически и экспериментально исследована динамика процесса восстановления напряжения на кремниевом фотоумножителе. Изучены особенности восстановления напряжения в кристаллах с большим числом ячеек. Изложены соображения по конфигурации и выбору значений элементов фильтра в цепи питания. Получено выражение для расчета времени восстановления при произвольном числе сработавших пикселей, учитывающее общее число пикселей фотоумножителя, сопротивление горизонтального растекания тока по p- и n-областям пикселя, значения внешних элементов. Аналитические выражения и результаты SPICE-моделирования сопоставлены с экспериментальными результатами измерения напряжения на нагрузке.
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.