МОДЕЛИРОВАНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК ТРИГГЕРНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ КМОП ДВУХФАЗНОЙ ЛОГИКИ С УЧЕТОМ РАЗДЕЛЕНИЯ ЗАРЯДА ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ОТДЕЛЬНЫХ ЯДЕРНЫХ ЧАСТИЦ

ЖУРНАЛ:


МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Издательство: Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука" (Москва)
ISSN: 0544-1269

АННОТАЦИЯ:

Сбоеустойчивость к воздействию отдельных ядерных частиц КМОП D и RS-триггеров с двухфазной структурой и ячеек памяти на их основе зависит от реакции на сбор заряда несколькими узлами. Для ячеек DICE и Quatro установлена связь пар узлов критических характеристик и особенностями симметрии электрических связей транзисторов триггеров. Определены критические пары узлов с минимальными критическими зарядами и повышенной помехоустойчивостью. Даны рекомендации по взаимному расположению транзисторов в ячейках DICE. Примеры количественной оценки критических зависимостей даны для ячеек с проектной нормой объемный 65 нм КМОП. При кратном воздействии на узлы преимущество имеют ячейки DICE.