ВЛИЯНИЕ МЯГКОГО РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА ПОВЕРХНОСТНЫЕ СВОЙСТВА ТВЕРДЫХ РАСТВОРОВ CD XHG 1-XTE
14 сентября 2018
360
| Предметная область | — |
| Выходные данные | — |
| Ключевые слова | — |
| Вид публикации | Статья |
| Контактные данные автора публикации | СРЕДИН ВИКТОР ГЕННАДИЕВИЧ1, АНАНЬИН ОЛЕГ БОРИСОВИЧ2, БУРЛАКОВ ИГОРЬ ДМИТРИЕВИЧ3, БОГДАНОВ ГЛЕБ СЕРГЕЕВИЧ2, ИВАНИЦКАЯ ЕВГЕНИЯ АЛЕКСАНДРОВНА2, ЛАВРУХИН ДЕНИС ВЛАДИМИРОВИЧ2, МЕЛЕХОВ АНДРЕЙ ПЕТРОВИЧ2 1 Военная академия РВСН им. Петра Великого 2 Национальный и |
| Ссылка на публикацию в интернете | elibrary.ru/item.asp?id=21218083 |
Аннотация
ЖУРНАЛ:
ИЗВЕСТИЯ ВЫСШИХ УЧЕБНЫХ ЗАВЕДЕНИЙ. ФИЗИКА
Издательство: Национальный исследовательский Томский государственный университет (Томск)
ISSN: 0021-3411
КЛЮЧЕВЫЕ СЛОВА:
ЛАЗЕРНОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ, LASER RADIATION, МЯГКОЕ РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ, SOFT X-RAY IRRADIATION, ТВЕРДЫЕ РАСТВОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВ, SEMICONDUCTOR SOLID SOLUTIONS
АННОТАЦИЯ:
Представлены результаты воздействия мягкого рентгеновского излучения лазерной плазмы на свойства поверхности твердых растворов Cd xHg 1-xTe. Рассмотрено влияние характеристик излучения на процессы модификации материала.
ПодробнееИЗВЕСТИЯ ВЫСШИХ УЧЕБНЫХ ЗАВЕДЕНИЙ. ФИЗИКА
Издательство: Национальный исследовательский Томский государственный университет (Томск)
ISSN: 0021-3411
КЛЮЧЕВЫЕ СЛОВА:
ЛАЗЕРНОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ, LASER RADIATION, МЯГКОЕ РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ, SOFT X-RAY IRRADIATION, ТВЕРДЫЕ РАСТВОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВ, SEMICONDUCTOR SOLID SOLUTIONS
АННОТАЦИЯ:
Представлены результаты воздействия мягкого рентгеновского излучения лазерной плазмы на свойства поверхности твердых растворов Cd xHg 1-xTe. Рассмотрено влияние характеристик излучения на процессы модификации материала.
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.