Bias conditions and functional test procedure influence on PowerPC7448 microprocessor TID tolerance . Proceedings of the European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, RADECS 28 October 2014, Article number 6937407
14 сентября 2018
231
| Предметная область | — |
| Выходные данные | — |
| Ключевые слова | — |
| Вид публикации | Статья |
| Контактные данные автора публикации | Karakozov, A.B.a , Korneev, O.V.c , Nekrasov, P.V.b , Sokolov, M.N.c , Zagryadsky, D.A.c a Institute of Extreme Applied Electronics of National Research Nuclear University MEPhI, 31, Kashirskoe shosse, Moscow, Russian Federation b |
| Ссылка на публикацию в интернете | www.scopus.com/record/display.url?origin=recordpage&eid=2-s2.0-84929008281&citeCnt=3&noHighlight=false&sort=plf-f&src=s&st1=MEPhI&nlo=&nlr=&nls=&sid=F0743CC1BB1CEC168410A18CB87C48A7.Vdktg6RVtMfaQJ4pNTCQ:6500&sot=b&sdt=b&sl=31&s=AFFIL(MEPhI) AND PU |
Аннотация
TID test method and results for CMOS SOI PowerPC7884 microprocessor in gamma-rays are presented. Significant influence of bias conditions and functional test procedure on resulting TID tolerance level is noted. © 2013 IEEE.
--------------------------------------------------------------------------------
Author keywords
functional testing; microprocessors; PowerPC; TID
--------------------------------------------------------------------------------
Author keywords
functional testing; microprocessors; PowerPC; TID
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.