Influence of soft X-ray on thesurface properties of Cdx Hg 1-x Te solid solutions. Applied Physics, Issue 6, 2013, Pages 17-20

14 сентября 2018
420
Предметная область —
Выходные данные —
Ключевые слова —
Вид публикации Статья
Контактные данные автора публикации Sredin, K.G.ad , AnanIn, O.B.bd, Burlakov, I.D.c, Mirofyanchenko, A.E.c, Melekhov, A.P.bd, Novikov, I.K.b a Military Academy of the RVSN, 9/5 Kitayigorodsky passage, Moscow, Russian Federation b MEPhI National Research Nuclear
Ссылка на публикацию в интернете www.scopus.com/record/display.url?origin=recordpage&eid=2-s2.0-84897443180&citeCnt=3&noHighlight=false&sort=plf-f&src=s&st1=MEPhI&nlo=&nlr=&nls=&sid=F0743CC1BB1CEC168410A18CB87C48A7.Vdktg6RVtMfaQJ4pNTCQ:6500&sot=b&sdt=b&sl=31&s=AFFIL(MEPhI) AND PU

Аннотация

The AFM research of a X-ray soft impact on the CdxHg 1-xTe surface morphology has been shown. The radiation dose increase results to root-mean-square roughness rise.



--------------------------------------------------------------------------------


Author keywords

AFM; Plasma; Surface morphology; X-ray
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.