Снижение пределов обнаружения примесей при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой

Для снижения пределов обнаружения (ПО) примесей при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ИСП-АЭС) использовано устройство электротермического испарения (ЭТИ) проб производства ООО «ВМК-Оптоэлектроника». Изучены временные зависимости поступления аналитов в ИСП, выбраны операционные параметры ЭТИ. На примере анализа высокочистого диоксида германия показана эффективность применения устройства ЭТИ, оценены преимущества и недостатки данного способа ввода концентрата примесей в ИСП.