Снижение пределов обнаружения примесей при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой

14 сентября 2018
180
Предметная область
Выходные данные
Ключевые слова
Вид публикации Статья
Контактные данные автора публикации Н. С. Медведев, А. Н. Путьмаков, А. В. Шаверина, А. Р. Цыганкова, А. И. Сапрыкин
Ссылка на публикацию в интернете www.zldm.ru/upload/iblock/63d/10286861201481012157.pdf

Аннотация

Для снижения пределов обнаружения (ПО) примесей при анализе высокочистых веществ методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой (ИСП-АЭС) использовано устройство электротермического испарения (ЭТИ) проб производства ООО «ВМК-Оптоэлектроника». Изучены временные зависимости поступления аналитов в ИСП, выбраны операционные параметры ЭТИ. На примере анализа высокочистого диоксида германия показана эффективность применения устройства ЭТИ, оценены преимущества и недостатки данного способа ввода концентрата примесей в ИСП.
Подробнее
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.