Modeling of the influence of defects on the electronic structure of silicon nanoclusters
14 сентября 2018
214
| Предметная область | — |
| Выходные данные | — |
| Ключевые слова | — |
| Вид публикации | Статья |
| Контактные данные автора публикации | Sokolenko, E.V. |
| Ссылка на публикацию в интернете | www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84938559290&partnerID=40&md5=6415f898dbad6a43e9c2018e95171cee |
Аннотация
(2015) Inorganic Materials, 51 (9), art. no. 665, pp. 862-869.
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.