Research of nanosized carbon films by X-ray photoelectronic spectroscopy
14 сентября 2018
223
| Предметная область | — |
| Выходные данные | — |
| Ключевые слова | — |
| Вид публикации | Статья |
| Контактные данные автора публикации | Valyukhov, D.ab, Lisitsyn, S.c, Pigulev, R.ab, Sidorov, K.c, Belayeva, E.ab |
| Ссылка на публикацию в интернете | www.scopus.com/record/display.url?eid=2-s2.0-84940533353&origin=resultslist&sort=plf-f&src=s&sid=35C41CD73D9268D8A440E945827AD473.zQKnzAySRvJOZYcdfIziQ:120&sot=autdocs&sdt=autdocs&sl=17&s=AU-ID(6508277706)&relpos=1&relpos=1&citeCnt=0&searchTerm= |
Аннотация
Research of nanosized carbon films by X-ray photoelectronic spectroscopy
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.