Тестово-кодовая коррекции ошибок статических оперативных запоминающих устройств

Предложен метод тестово-кодовой коррекции ошибок оперативных запоминающих устройств, который заключается в том, что для обнаружения возникающих ошибок используется алгебраический линейный код, а определение конфигурации (ошибочных разрядов) одиночных двойных ошибок и их коррекция проводятся по значению синдрома ошибки и результатам анализа ответной реакции, полученной на основе подачи тестового воздействия. Предлагаемый тестово-кодовый метод обнаружения и коррекции ошибок в отличии от известных позволяет: - корректировать 100% одиночных ошибок; - корректировать двойные ошибки в информационных блоках; - иметь минимальную информационную избыточность (два контрольных разряда, при любом числе информационных разрядов); - обеспечить высокую достоверность функционирования (обнаруживать 100% возможных ошибок, включая ошибки, трансформируемые в разрешенные (безошибочные) кодовые наборы); - обнаруживать скрытые ошибки; - минимизировать аппаратурные затраты на построение декодирующего устройства (не требует хранения таблицы синдромов ошибок и использует минимальную таблицу поправок); - исключает методическую ошибку декодирования (характерную для большинства декодирующих устройств, реализующих метод «максимума правдоподобия», когда ошибки различной кратности, имеющие одинаковый синдром и принадлежащие одному смежному классу, корректируются исходя из кодового расстояния выбранного линейного кода); - минимизировать временные затраты на коррекцию ошибок (требуется подача одного тестового воздействия, которое может подаваться только при обнаружении ошибок).