Трехслойные наноструктуры интерференционных фильтров Фабри-Перо высокого разрешения
14 сентября 2018
250
Предметная область | — |
Выходные данные | — |
Ключевые слова | — |
Вид публикации | Статья |
Контактные данные автора публикации | — |
Ссылка на публикацию в интернете | www.nano-systems.ru/library/_publications/fabry_abstract.pdf |
Аннотация
Предметом исследований является создание новых конструкций
интерференционных фильтров Фабри-Перо, являющихся основными узлами современных
контрольно-измерительных комплексов. Классические интерферометры представляют собой
измерительные приборы, в которых используется интерференция волн. Интерферометры
нашли весьма широкое применение: акустические интерферометры и радиоинтерферометры
используются для измерения скорости распространения волн (акустических и радио), для
измерения расстояний между двумя излучателями волн или между излучателем и
отражающим телом, т.е. применяются как дальномеры. Наибольшее распространение
получили оптические интерферометры (интерферометры Майкельсона, Фабри-Перо, Фурье).
Они применяются для измерения длин волн спектральных линий, показателей преломления
прозрачных сред, абсолютных и относительных длин, угловых размеров звезд и пр., для
контроля качества оптических деталей и их поверхностей, а также для контроля чистоты
обработки металлических поверхностей.
Подробнееинтерференционных фильтров Фабри-Перо, являющихся основными узлами современных
контрольно-измерительных комплексов. Классические интерферометры представляют собой
измерительные приборы, в которых используется интерференция волн. Интерферометры
нашли весьма широкое применение: акустические интерферометры и радиоинтерферометры
используются для измерения скорости распространения волн (акустических и радио), для
измерения расстояний между двумя излучателями волн или между излучателем и
отражающим телом, т.е. применяются как дальномеры. Наибольшее распространение
получили оптические интерферометры (интерферометры Майкельсона, Фабри-Перо, Фурье).
Они применяются для измерения длин волн спектральных линий, показателей преломления
прозрачных сред, абсолютных и относительных длин, угловых размеров звезд и пр., для
контроля качества оптических деталей и их поверхностей, а также для контроля чистоты
обработки металлических поверхностей.
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.