Новый методологический подход к контролю качества электронной продукции для космических систем с использованием масс-спектрометрического комплекса МКМ-1

14 сентября 2018
182
Предметная область
Выходные данные
Ключевые слова
Вид публикации Статья
Контактные данные автора публикации
Ссылка на публикацию в интернете www.spectromass.ru/wp-content/uploads/2015/08/Novyj-metodologicheskij-podhod-k-kontrolyu-kachestva-elektronnoj-produktsii-dlya-kosmicheskih-sistem-s-ispolzovaniem-mass-spektrometricheskogo-kompleksa-MKM-1.pdf

Аннотация

Предложена реализация нового методологического подхода проверки на надёжность отбраковки продукции микроэлектронной промышленности для космической отрасли. Рассмотрены факторы, влияющие на надёжность работы интегральных схем (ИС) и модульных конструктивов. Создан приборный и методический инструмент для проведения
исследований по определению зависимости влагосодержания и концентраций активных радикалов от температуры внутри полости корпусов изделий в широком диапазоне температур 20ºС - 800ºС. Проанализированы изделия предприятий микроэлектроники и космической промышленности, изготовленные при различных технологических методах
организации производства. Оптимизированы условия, необходимые при подготовке корпусов, проверено качество исходных материалов, выявлены негативные факторы,
влияющие на надёжность продукции.
Подробнее
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.