Новый методологический подход к контролю качества электронной продукции для космических систем с использованием масс-спектрометрического комплекса МКМ-1
14 сентября 2018
251
| Предметная область | — |
| Выходные данные | — |
| Ключевые слова | — |
| Вид публикации | Статья |
| Контактные данные автора публикации | — |
| Ссылка на публикацию в интернете | www.spectromass.ru/wp-content/uploads/2015/08/Novyj-metodologicheskij-podhod-k-kontrolyu-kachestva-elektronnoj-produktsii-dlya-kosmicheskih-sistem-s-ispolzovaniem-mass-spektrometricheskogo-kompleksa-MKM-1.pdf |
Аннотация
Предложена реализация нового методологического подхода проверки на надёжность отбраковки продукции микроэлектронной промышленности для космической отрасли. Рассмотрены факторы, влияющие на надёжность работы интегральных схем (ИС) и модульных конструктивов. Создан приборный и методический инструмент для проведения
исследований по определению зависимости влагосодержания и концентраций активных радикалов от температуры внутри полости корпусов изделий в широком диапазоне температур 20ºС - 800ºС. Проанализированы изделия предприятий микроэлектроники и космической промышленности, изготовленные при различных технологических методах
организации производства. Оптимизированы условия, необходимые при подготовке корпусов, проверено качество исходных материалов, выявлены негативные факторы,
влияющие на надёжность продукции.
Подробнееисследований по определению зависимости влагосодержания и концентраций активных радикалов от температуры внутри полости корпусов изделий в широком диапазоне температур 20ºС - 800ºС. Проанализированы изделия предприятий микроэлектроники и космической промышленности, изготовленные при различных технологических методах
организации производства. Оптимизированы условия, необходимые при подготовке корпусов, проверено качество исходных материалов, выявлены негативные факторы,
влияющие на надёжность продукции.
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.