Особенности измерений на полупроводниковых подложках и калибровочных методов в СВЧ диапазоне, основанных на планарных линиях
14 сентября 2018
292
| Предметная область | — |
| Выходные данные | — |
| Ключевые слова | — |
| Вид публикации | Методика |
| Контактные данные автора публикации | Андрей Румянцев, тел.: (495) 287-85-77, e-mail: infos@tbs-semi.ru |
| Ссылка на публикацию в интернете | www.tbs-semi.ru/upload/iblock/860/860dde90089ffbc51797124d38180a3a.pdf |
Аннотация
Представлены особенности измерений на полупроводниковых подложках и калибровочные методы в СВЧ диапазоне, основанные на планарных линиях
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.