Функциональная диагностика и анализ отказов современных интегральных устройств на основе микрозондовых технологий
14 сентября 2018
290
| Предметная область | — |
| Выходные данные | — |
| Ключевые слова | — |
| Вид публикации | Тематический материал |
| Контактные данные автора публикации | — |
| Ссылка на публикацию в интернете | inme-ras.ru/rus/about/publications/detail.php?id=735 |
Аннотация
Ю.В.Ануфриев, Е.В.Зенова, А.М.Тагаченков, Е.М.Еганова, М.И.Агафонов, А.А.Дудин. Функциональная диагностика и анализ отказов современных интегральных устройств на основе микрозондовых технологий// «Нанотехнологии – производству 2012» Тезисы докладов VIII Международной научно-практической конференции. Фрязино: 4-6 апреля 2012. (с. 58-60)
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.