Функциональная диагностика и анализ отказов современных интегральных устройств на основе микрозондовых технологий

14 сентября 2018
169
Предметная область
Выходные данные
Ключевые слова
Вид публикации Тематический материал
Контактные данные автора публикации
Ссылка на публикацию в интернете inme-ras.ru/rus/about/publications/detail.php?id=735

Аннотация

Ю.В.Ануфриев, Е.В.Зенова, А.М.Тагаченков, Е.М.Еганова, М.И.Агафонов, А.А.Дудин. Функциональная диагностика и анализ отказов современных интегральных устройств на основе микрозондовых технологий// «Нанотехнологии – производству 2012» Тезисы докладов VIII Международной научно-практической конференции. Фрязино: 4-6 апреля 2012. (с. 58-60)
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.