Применение атомно-силовой микроскопии для исследования поверхности фоторезисторов на основе PbS

14 сентября 2018
146
Предметная область
Выходные данные
Ключевые слова
Вид публикации Тематический материал
Контактные данные автора публикации
Ссылка на публикацию в интернете inme-ras.ru/rus/about/publications/detail.php?id=736

Аннотация

И.Н.Мирошникова, Х.С.Мохамед, Е.В.Зенова, А.М.Тагаченков, и др. Применение атомно-силовой микроскопии для исследования поверхности фоторезисторов на основе PbS//Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология, диагностика, технология, учебный процесс): Материалы докладов научно-методического семинара (Москва 28-30 11. 2011 г.) М: МНТОРЭС им. А.С. Попова, НИУ «МЭИ», 2012.- 229с., стр. 140-146.
Подробнее
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.