Структурная диагностика и вещественный анализ современных наносистем с применением аналитического оборудования на основе прецизионной электронно-ионной сканирующей микроскопии
14 сентября 2018
516
| Предметная область | — |
| Выходные данные | — |
| Ключевые слова | — |
| Вид публикации | Тематический материал |
| Контактные данные автора публикации | — |
| Ссылка на публикацию в интернете | inme-ras.ru/rus/about/publications/detail.php?id=734 |
Аннотация
Ю.В.Ануфриев, Е.В.Зенова, А.М.Тагаченков, В.Ю.Дубровинский. Структурная диагностика и вещественный анализ современных наносистем с применением аналитического оборудования на основе прецизионной электронно-ионной сканирующей микроскопии// «Нанотехнологии – производству 2012» Тезисы докладов VIII Международной научно-практической конференции. Фрязино: 4-6 апреля 2012. (с. 55-57)
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.