Прототипирование микро- и нано- электромеханических систем

Приборы и структуры, созданные на наноуровне, сейчас имеют целый ряд реальных приложений и огромный потенциал для дальнейшего развития, их потребление продолжает расти. Однако, преобразование новейших идей и проектов в нечто реальное для научных исследований, тестирование и создание прототипов может иметь значительные технические и финансовые трудности. Процесс превращения наноразмерных разработок в реальные устройства может быть ускорен с использованием хорошо сфокусированных пучков частиц вместе с новейшим средствами для моделирования рельефа поверхности и прецизионных платформ, интегрированных в последние разработки компании FEI (фокусированный ионный пучок (FIB), сканирующий электронный микроскоп (SEM) и двулучевая система в сочетании FIB и SEM).