Пробоподготовка с использованием FIB для исследований в области просвечивающей электронной микроскопии

14 сентября 2018
435
Предметная область
Выходные данные
Ключевые слова
Вид публикации Статья
Контактные данные автора публикации
Ссылка на публикацию в интернете www.microscop.ru/materialovedenie/item/sample-preparation/?category_id=64

Аннотация

Современная просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения (HRTEM, High-resolution transmission electron microscopy) невозможна без тщательной подготовки образца для последующего анализа. Традиционным способом получения подобного рода образцов является ультрамикротомия - Ультратонкие срезы (10-100 нм) получают с помощью ультрамикротомов, пористые и волокнистые материалы предварительно пропитывают и заливают в эпоксидную смолу. В процессе освоения методов ультрамикротомии могут возникать трудности, которые приводят к артефактам резания, например, невозможности сохранения истинных структурных особенностей образца при приготовлении. Поэтому метод применяется там, где кристаллическая структура не имеет большого значения, например, для изучения волокнистых, полимерных материалов.
Подробнее
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.