Методика оценки эксплуатационной стабильности полупроводниковых материалов

Суть методики состоит в том, что ищут слабые связи между атомами и оценивают их энергию диссоциации, причем делается это как для нейтральных молекул, так и для заряженных, поскольку полупроводники в излучающем слое OLED проводят как электроны, так и дырки. Разность энергии разрыва связи и энергии возбужденного состояния молекулы дает оценку устойчивости молекулы в условиях транспорта электронов, дырок или экситонов. Таким образом, энергия разрыва связи в нейтральном и заряженных состояниях и энергия синглетного и триплетного возбуждения являются теми дескрипторами, которые определяют эксплуатационную стабильность органических полупроводников. На основе этих величин можно давать рекомендации по оптимальным условиям использования полупроводниковых молекул в слоях OLED.