Основы сканирующей зондовой микроскопии. Миронов В. Л. Fundamentals of Scanning Probe Microscopy. Mironov V.
14 сентября 2018
514
| Предметная область | — |
| Выходные данные | — |
| Ключевые слова | — |
| Вид публикации | Тематический материал |
| Контактные данные автора публикации | Котов Владимир, тел.: (499) 110-20-50, e-mail: kotov@ntmdt-si.com |
| Ссылка на публикацию в интернете | www.ntmdt-si.ru/data/media/files/brochures/osnovy_skaniruyushcej_zondovoj_mikroskopii.pdf |
Аннотация
Книга представляет собой учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений, посвященное одному из самых современных методов исследования поверхности твердого тела – сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ, SPM). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ, STM), атомно-силовая микроскопия (АСМ, AFM), электросиловая микроскопия (ЭСМ, EFM), магнитно- силовая микроскопия (МСМ, MFM), ближнепольная оптическая микроскопия (БОМ, SNOM).
ПодробнееДля того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.