Основы сканирующей зондовой микроскопии. Миронов В. Л. Fundamentals of Scanning Probe Microscopy. Mironov V.

14 сентября 2018
361
Предметная область
Выходные данные
Ключевые слова
Вид публикации Тематический материал
Контактные данные автора публикации Котов Владимир, тел.: (499) 110-20-50, e-mail: kotov@ntmdt-si.com
Ссылка на публикацию в интернете www.ntmdt-si.ru/data/media/files/brochures/osnovy_skaniruyushcej_zondovoj_mikroskopii.pdf

Аннотация

Книга представляет собой учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений, посвященное одному из самых современных методов исследования поверхности твердого тела – сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ, SPM). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ, STM), атомно-силовая микроскопия (АСМ, AFM), электросиловая микроскопия (ЭСМ, EFM), магнитно- силовая микроскопия (МСМ, MFM), ближнепольная оптическая микроскопия (БОМ, SNOM).
Подробнее
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.