Электросиловая микроскопия наноразмерных объектов. Д.Багров, И.Яминский, О.Шабурова А.Феофанов, К.Шайтан.

Электросиловая микроскопия (ЭСМ, EFM) – специальный режим атомно-силовой микроскопии (АСМ, AFM), позволяющий получать информацию о градиенте электрического поля над поверхностью образца, а также о величине и знаке локализованных на ней зарядов. ЭСМ может применяться для проверки качества контактов и поиска дефектов в электрических схемах, обнаружения связанных зарядов, чтения и записи информации посредством изменения расположения зарядов на поверхности. В данной работе режим ЭСМ использован для наблюдения особенностей отдельных наночастиц.
Теги:atomic-force microscopy bacteriophages electrostatic force microscopy nanoparticles атомно-силовая микроскопия бактериофаги наночастицы электросиловая микроскопия.
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER НТ-МДТ