Электросиловая микроскопия наноразмерных объектов. Д.Багров, И.Яминский, О.Шабурова А.Феофанов, К.Шайтан.

14 сентября 2018
417
Предметная область
Выходные данные
Ключевые слова
Вид публикации Тематический материал
Контактные данные автора публикации Котов Владимир, тел.: (499) 110-20-50, e-mail: kotov@ntmdt-si.com
Ссылка на публикацию в интернете www.nanoindustry.su/journal/article/2760

Аннотация

Электросиловая микроскопия (ЭСМ, EFM) – специальный режим атомно-силовой микроскопии (АСМ, AFM), позволяющий получать информацию о градиенте электрического поля над поверхностью образца, а также о величине и знаке локализованных на ней зарядов. ЭСМ может применяться для проверки качества контактов и поиска дефектов в электрических схемах, обнаружения связанных зарядов, чтения и записи информации посредством изменения расположения зарядов на поверхности. В данной работе режим ЭСМ использован для наблюдения особенностей отдельных наночастиц.
Теги:atomic-force microscopy bacteriophages electrostatic force microscopy nanoparticles атомно-силовая микроскопия бактериофаги наночастицы электросиловая микроскопия.
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER НТ-МДТ
Подробнее
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.