СРАВНИТЕЛЬНЫЕ АСМ-СТМ ИССЛЕДОВАНИЯ МОРФОЛОГИИ YBACUO ПЛЕНОК РАЗЛИЧНОГО СОСТАВА. Н.В.Востоков, С.В.Гапонов, Б.А.Грибков, Д.В.Мастеров, В.Л.Миронов

14 сентября 2018
362
Предметная область
Выходные данные
Ключевые слова
Вид публикации Статья
Контактные данные автора публикации Котов Владимир, тел.: (499) 110-20-50, e-mail: kotov@ntmdt-si.com
Ссылка на публикацию в интернете novtex.ru/nmst/files/publ/552.htm

Аннотация

Представлены результаты исследований с помощью сканирующего зондового микроскопа особенностей, морфологии поверхности и электрических свойств эпитаксиальных пленок YBa2Cu3O7-x, получаемых магнетронным распылением из мишеней различного катионного состава. Установлено, что в конфигурации 90°off-axis магнетронной системы напыления возможна реализация условий роста, при которых выращиваемые пленки не содержат медьсодержащих преципитатов и имеют высокие, сверхпроводящие свойства (Tc³88 К, Jc(77K)³4·106 А/см2). Показано, что метод сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) позволяет получать более детальную по сравнению с методом атомной силовой микроскопии (АСМ) информацию о морфолигии и особенностях роста YBaCuO пленок.
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER НТ-МДТ
атомно-силовой микроскоп, AFM, SPM
Подробнее
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.