Новые решения для материаловедения, комплексного исследования и контроля материалов и структур с высоким пространственным разрешением. В.Быков, В.Поляков

14 сентября 2018
316
Предметная область
Выходные данные
Ключевые слова
Вид публикации Статья
Контактные данные автора публикации Котов Владимир, тел.: (499) 110-20-50, e-mail: kotov@ntmdt-si.com
Ссылка на публикацию в интернете www.nanoindustry.su/journal/article/5980

Аннотация

Рассмотрены основные этапы развития систем сканирующей зондовой микроскопии
и спектроскопии нанометрового пространственного разрешения российского производства. Приводятся новые конструкции приборов группы компаний NT-MDT Spectrum Instruments, новые разработки микромеханических систем для СЗМ. Проанализированы тенденции их развития с учетом особенностей России во взаимосвязи с мировым рынком научного приборостроения.
Теги: atomic force microscopy ir spectroscopy raman spectroscopy scanning probe microscopy атомно-силовая микроскопия ик-спектроскопия рамановская спектроскопия сканирующая зондовая микроскопия
Подробнее
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.