Новые решения для материаловедения, комплексного исследования и контроля материалов и структур с высоким пространственным разрешением. В.Быков, В.Поляков
14 сентября 2018
461
| Предметная область | — |
| Выходные данные | — |
| Ключевые слова | — |
| Вид публикации | Статья |
| Контактные данные автора публикации | Котов Владимир, тел.: (499) 110-20-50, e-mail: kotov@ntmdt-si.com |
| Ссылка на публикацию в интернете | www.nanoindustry.su/journal/article/5980 |
Аннотация
Рассмотрены основные этапы развития систем сканирующей зондовой микроскопии
и спектроскопии нанометрового пространственного разрешения российского производства. Приводятся новые конструкции приборов группы компаний NT-MDT Spectrum Instruments, новые разработки микромеханических систем для СЗМ. Проанализированы тенденции их развития с учетом особенностей России во взаимосвязи с мировым рынком научного приборостроения.
Теги: atomic force microscopy ir spectroscopy raman spectroscopy scanning probe microscopy атомно-силовая микроскопия ик-спектроскопия рамановская спектроскопия сканирующая зондовая микроскопия
Подробнееи спектроскопии нанометрового пространственного разрешения российского производства. Приводятся новые конструкции приборов группы компаний NT-MDT Spectrum Instruments, новые разработки микромеханических систем для СЗМ. Проанализированы тенденции их развития с учетом особенностей России во взаимосвязи с мировым рынком научного приборостроения.
Теги: atomic force microscopy ir spectroscopy raman spectroscopy scanning probe microscopy атомно-силовая микроскопия ик-спектроскопия рамановская спектроскопия сканирующая зондовая микроскопия
Для того чтобы оставить комментарий необходимо авторизоваться.